מדידת טופוגרפיה קונפוקלית של דגימות דנטליות

חיישנים קונפוקליים כרומטיים בודקים את טופוגרפיית פני השטח של דגימות דנטליות ברזולוציה גבוהה ועם תלות נמוכה בסוג המשטח. אזור המדידה מסומן בתוכנה. המערכת משמשת במשטחי פלסטיק, נייר, בד לא ארוג, זכוכית ומתכת.

פרטי היישום מופיעים במקור הרשמי של היצרן: https://www.micro-epsilon.com/applications/industries/medical-technology/dental-sample/