Micro-Epsilon משיקה את surfaceCONTROL 3D 3560 למדידת תלת־ממד מהירה
חיישן Snapshot תלת־ממדי חדש של Micro-Epsilon משלב מדידה ועיבוד ביחידה אחת עבור בקרת איכות אוטומטית.
Micro-Epsilon הציגה ב־2 באוקטובר 2026 את surfaceCONTROL 3D 3560, חיישן Snapshot תלת־ממדי המשלב קליטה, עיבוד והערכה ביחידה אחת. לפי הודעת היצרן, החיישן מעבד נתוני תלת־ממד בתוכו ומעביר לבקר המכונה את תוצאת המדידה או הבדיקה הנדרשת. כך ניתן לצמצם את נפח הנתונים ואת הצורך במחשב הערכה נפרד.
היצרן מציין חזרתיות בציר Z עד 0.25 מיקרון ורזולוציה רוחבית עד 8 מיקרון, וכן ממשקי PROFINET, EtherCAT, EtherNet/IP, Modbus TCP ו־UDP. נתוני הביצועים תלויים בדגם ובתנאי המדידה, ולכן יש לבחור תצורה על פי גיליון הנתונים המתאים.
