thicknessCONTROL MTS 8202.K קונפוקלי כרומטי
thicknessCONTROL MTS 8202.K — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
הורדת גיליון נתונים (נפתח בלשונית חדשה) הסדרה באתר Micro-Epsilon (נפתח בלשונית חדשה)
מפרט טכני משותף לסדרה
תכונות שיש לכל דגם בסדרה. מה שמשתנה בין הדגמים מופיע בטבלת הדגמים שלמטה.
טווח על פני הדגמים
הטווח שמכסים דגמי הסדרה יחד – לא הטווח של כל דגם.
| דיוק מערכת | 0.4–2.5 µm |
|---|---|
| רזולוציה | 0.07–0.36 µm |
| חזרתיות | 0.3–2 µm |
הדגמים בסדרה
עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.
| פרמטר | thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/1000 eli-m-fe2a1fd64820ca150253ba57 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/250 eli-m-4841baa5934b478bf536cff4 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/500 eli-m-f038213ace7570dd897a6880 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-3/250 eli-m-d3563e334784bd828ccd9789 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-3/500 eli-m-62a6ab57bb96be3a83379466 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/1000 eli-m-2a2a46a5b944342543da23f3 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/250 eli-m-6978e66ef32e5e5d77c11218 | thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/500 eli-m-cb7fe741d2c9972ef0970ef5 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| טמפרטורת עבודה | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C |
| רוחב חומר מרבי | 800 mm | 250 mm | 500 mm | 250 mm | 500 mm | 800 mm | 250 mm | 500 mm |
| ממשקים מובנים | profinet | ethernet | profinet | ethercat | ethernet | ethercat | ethernet | profinet |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Digital I/O | Analog 0-10V | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Analog 0-10V | Digital I/O |
| דיוק מערכת | 0.7 µm | 0.7 µm | 0.7 µm | 0.4 µm | 0.4 µm | 2.5 µm | 2.5 µm | 2.5 µm |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | 10 mm thickness measuring range; 800 mm named measuring width; article 4350127.43. | 10 mm thickness measuring range; 250 mm named measuring width; article 4350127.41. | 10 mm thickness measuring range; 500 mm named measuring width; article 4350127.42. | 3 mm thickness measuring range; 250 mm named measuring width; article 4350127.410. | 3 mm thickness measuring range; 500 mm named measuring width; article 4350127.411. | 30 mm thickness measuring range; 800 mm named measuring width; article 4350127.46. | 30 mm thickness measuring range; 250 mm named measuring width; article 4350127.44. | 30 mm thickness measuring range; 500 mm named measuring width; article 4350127.45. |
| רזולוציה | 0.12 µm | 0.12 µm | 0.12 µm | 0.07000000000000001 µm | 0.07000000000000001 µm | 0.36 µm | 0.36 µm | 0.36 µm |
| חזרתיות | 0.5 µm | 0.5 µm | 0.5 µm | 0.3 µm | 0.3 µm | 2 µm | 2 µm | 2 µm |
| מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע |
| סטטוס | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל |
| גיליון נתונים | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/1000 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/250 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/500 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-3/250 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-3/500 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/1000 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/250 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL MTS 8202.K-30/500 (נפתח בלשונית חדשה) |
התעשיות שאנו משרתים
שאלות נפוצות
תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו
מערכת C עם שני חיישנים קונפוקליים כרומטיים למדידת עובי, גם במשטחים מבריקים מתאימים.
לא. K מציין ענף קונפוקלי. אין להשוות את נתוניו לספירת נקודות x של סורק LLT.
לא. טווח העובי, מרווח העבודה, קו מעבר החומר ורוחב המדידה מוגדרים בנפרד. יש לבחור את קוד תצורת המערכת המלא.
לא. יש לבדוק גם דיוק וחזרתיות בתנאי הטבלה, גאומטריה, חומר, תנועה וסביבה. ערך רזולוציה קטן אינו מדד חלופי לדיוק המערכת.
את הכיול, מיקום הסורקים, מסלול התנועה וממשקי הבקרה ביחס לתצורה הנבחרת. יש לשמור נתוני מערכת בנפרד מנתוני הראש ומהאפשרויות לפי בקשה.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.