thicknessCONTROL MTS 8202.K-10/1000
מסדרת thicknessCONTROL MTS 8202.K
thicknessCONTROL MTS 8202.K — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
- דיוק מערכת
- 0.7 µm
מפרט טכני
כל הנתונים ההנדסיים, מסודרים לסריקה מהירה
| רזולוציה | 0.12 µm |
|---|---|
| ממשקים מובנים | profinet |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Digital I/O |
| טמפרטורת עבודה | 5–40 °C |
| רוחב חומר מרבי | 800 mm |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | 10 mm thickness measuring range; 800 mm named measuring width; article 4350127.43. |
| דיוק מערכת | 0.7 µm |
| חזרתיות | 0.5 µm |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. |
| ממשקים מובנים | ethercat |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Analog 0-10V |
| ממשקים מובנים | ethernet |
| מגע | ללא מגע |
אביזרים תואמים
מוצרים משלימים
- IF1032/ETH eli-m-9f23885a1bd1bd049fa826c5 יש להתאים את יציאת הראש או הבקר, פינים וקצה כבל ייעודי. יש לבדוק תדר מוצא, רישיונות והזנה של שרשרת המדידה כולה; מודול התקשורת אינו משפר את דיוק החיישן.; זהו מסלול המרה מותנה, לא תאימות מלאה מאומתת. יש לקבל אישור לשרשרת המדידה לפני הזמנה.; תדר מוצא מרבי של מסלול זה: 4000 הרץ.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.
בקשת הצעת מחיר למוצר הזה