thicknessCONTROL STG 8102.K קונפוקלי כרומטי
thicknessCONTROL STG 8102.K — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
הורדת גיליון נתונים (נפתח בלשונית חדשה) הסדרה באתר Micro-Epsilon (נפתח בלשונית חדשה)
מפרט טכני משותף לסדרה
תכונות שיש לכל דגם בסדרה. מה שמשתנה בין הדגמים מופיע בטבלת הדגמים שלמטה.
טווח על פני הדגמים
הטווח שמכסים דגמי הסדרה יחד – לא הטווח של כל דגם.
| דיוק מערכת | 0.4–2.5 µm |
|---|---|
| רזולוציה | 0.07–0.36 µm |
| חזרתיות | 0.3–2 µm |
הדגמים בסדרה
עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.
| פרמטר | thicknessCONTROL STG 8102.K-10/1000 eli-m-d311e1255c9d8ebb59b3d457 | thicknessCONTROL STG 8102.K-10/250 eli-m-6bc97f395f4f908d730e616e | thicknessCONTROL STG 8102.K-10/500 eli-m-e480146adc5ca458dae56517 | thicknessCONTROL STG 8102.K-3/250 eli-m-9ef896ea7e72a8c035c85aef | thicknessCONTROL STG 8102.K-3/500 eli-m-5a9dd4d487b01c11c18c3fdd | thicknessCONTROL STG 8102.K-30/1000 eli-m-fbdca51871bbbc9b4028499e | thicknessCONTROL STG 8102.K-30/250 eli-m-97068ddcbeb9cc5266b0f184 | thicknessCONTROL STG 8102.K-30/500 eli-m-cf9a5aec4916dbaa0a8e6285 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ממשקים מובנים | profinet | ethernet | ethernet | profinet | profinet | ethercat | ethercat | profinet |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | 10 mm thickness measuring range; 1000 mm named measuring width; article 4350127.43. | 10 mm thickness measuring range; 250 mm named measuring width; article 4350127.41. | 10 mm thickness measuring range; 500 mm named measuring width; article 4350127.42. | 3 mm thickness measuring range; 250 mm named measuring width; article 4350127.410. | 3 mm thickness measuring range; 500 mm named measuring width; article 4350127.411. | 30 mm thickness measuring range; 1000 mm named measuring width; article 4350127.46. | 30 mm thickness measuring range; 250 mm named measuring width; article 4350127.44. | 30 mm thickness measuring range; 500 mm named measuring width; article 4350127.45. |
| בסיס קצב הדגימה | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. | Official maximum measurement or output rate: 70,000 Hz. |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Digital I/O | Analog 0-10V | Digital I/O | Digital I/O | Analog 0-10V | Digital I/O | Analog 0-10V | Digital I/O |
| רוחב חומר מרבי | 1000 mm | 250 mm | 500 mm | 250 mm | 500 mm | 1000 mm | 250 mm | 500 mm |
| דיוק מערכת | 0.7 µm | 0.7 µm | 0.7 µm | 0.4 µm | 0.4 µm | 2.5 µm | 2.5 µm | 2.5 µm |
| טמפרטורת עבודה | 5–70 °C | 5–70 °C | 5–70 °C | 5–70 °C | 5–70 °C | 5–70 °C | 5–70 °C | 5–70 °C |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. | Official source value, normally stated at 2 sigma where identified in the family table. |
| רזולוציה | 0.12 µm | 0.12 µm | 0.12 µm | 0.07000000000000001 µm | 0.07000000000000001 µm | 0.36 µm | 0.36 µm | 0.36 µm |
| חזרתיות | 0.5 µm | 0.5 µm | 0.5 µm | 0.3 µm | 0.3 µm | 2 µm | 2 µm | 2 µm |
| מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע | ללא מגע |
| קצב דגימת ADC | 70000 samples/s | 70000 samples/s | 70000 samples/s | 70000 samples/s | 70000 samples/s | 70000 samples/s | 70000 samples/s | 70000 samples/s |
| סטטוס | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל |
| גיליון נתונים | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-10/1000 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-10/250 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-10/500 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-3/250 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-3/500 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-30/1000 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-30/250 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — thicknessCONTROL STG 8102.K-30/500 (נפתח בלשונית חדשה) |
התעשיות שאנו משרתים
שאלות נפוצות
תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו
שימוש בטכנולוגיה קונפוקלית למדידת עובי. בוחרים זוג ראשים, טווח וגאומטריית מערכת מתאימים.
הקטלוג מציין יריעות דקות, משטחים מורכבים וציפויים שקופים. התאמה מדויקת דורשת בדיקת חומר, החזר ופרמטרי התצורה.
לא. בטבלת המערכת ערכי דיוק וחזרתיות שונים לפי טווח. יש לשמור גם את בסיס 2 sigma ואת תנאי החומר וההתקנה.
לא. הוא מאפשר להפריד החזרות או שכבות בתצורה המתאימה, אך יש להגדיר את החומר, המשטחים והגודל שרוצים למדוד.
משווים אותו גודל עובי, טווח עבודה, חומר וקצב מערכת. אין להשוות מספר נקודות בקו ישירות לדיוק קונפוקלי או להחיל שיטת כיול אחת על השנייה.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.