confocalDT two-sided thickness setup קונפוקלי כרומטי
confocalDT two-sided thickness setup — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
הורדת גיליון נתונים (נפתח בלשונית חדשה) הסדרה באתר Micro-Epsilon (נפתח בלשונית חדשה)
הדגמים בסדרה
עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.
| פרמטר | 2x IFS2405-3 eli-m-dddba72ae65cef69d03be751 |
|---|---|
| דרגת אטימות IP | ip64 |
| מרחק עבודה | 5–30 mm |
| ממשקים מובנים | ethernet |
| טמפרטורת עבודה | 5–70 °C |
| דיוק | 0.9 µm |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | Two opposing 3 mm confocal heads; thickness = calibrated gap minus both measured distances. |
| מספר ערוצי מדידה | 2 |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | RS422 / RS485 |
| בסיס קצב הדגימה | One IFC2466 dual-channel controller: 30,000 synchronous measurements/s per channel |
| קצב דגימת ADC | 30000 samples/s |
| סטטוס | פעיל |
| גיליון נתונים | PDF — 2x IFS2405-3 (נפתח בלשונית חדשה) |
שאלות נפוצות
תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו
כאשר העובי נגזר משני המשטחים החיצוניים, למשל בחומר אטום. שני ראשים מודדים מרחק משני הצדדים, והמערכת מחשבת את העובי מתוך מרחק הייחוס ביניהם.
בחומר נע או רועד, הפרש זמנים בין הערוצים עלול ליצור הפרש שאינו עובי אמיתי. בוחרים בקר דו־ערוצי או מסלול קליטה סינכרוני מתועד.
לא. הוא תלוי בשני טווחי העבודה ובמרחק הייחוס בין הראשים. כל משטח צריך להישאר בתוך טווח הראש המתאים לאורך כל תנועת החומר.
שני ראשים, סיבים תואמים, בקר או קליטה סינכרונית, מבנה דפינה יציב וחיבורי הזנה ונתונים. הגדרת מרחק הייחוס היא חלק מהקמת המערכת.
חישוב משני המשטחים החיצוניים מבוסס על מרחקים ומרחק ייחוס. תיקון מקדם השבירה שייך למדידה דרך חומר שקוף מצד אחד; אלו שיטות חישוב שונות.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.
בקשת הצעת מחיר למוצר הזה