surfaceCONTROL 3D 2500 מערכות מדידה ותלת מימד
surfaceCONTROL 3D 2500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
הורדת גיליון נתונים (נפתח בלשונית חדשה) הסדרה באתר Micro-Epsilon (נפתח בלשונית חדשה)
מפרט טכני משותף לסדרה
תכונות שיש לכל דגם בסדרה. מה שמשתנה בין הדגמים מופיע בטבלת הדגמים שלמטה.
טווח על פני הדגמים
הטווח שמכסים דגמי הסדרה יחד – לא הטווח של כל דגם.
| טווח מדידה בציר X | 300–575 mm |
|---|---|
| מרחק עבודה | 475–1250 mm |
| חזרתיות | 0.5–3 µm |
| רזולוציה בציר Y | 125–250 µm |
| רזולוציה | 1.2–8.5 µm |
| טווח מדידה בציר Z | 150–300 mm |
| רזולוציה בציר X | 125–250 µm |
| טווח מדידה בציר Y | 220–435 mm |
הדגמים בסדרה
עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.
| פרמטר | SC2500-300 eli-m-5541e208cc5d898822a149c9 | SC2500-400 eli-m-a30f41de83bcca13f754e394 | SC2500-575 eli-m-56f825fcdb43ef2ad03e8f8f | SC2510-300 eli-m-90fcac0c2cee4899c83c247b | SC2510-400 eli-m-c3f5b7f827b6929500250bfe | SC2510-575 eli-m-ea7f3375d76d863396cbdef4 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| דרגת אטימות IP | ip40 | ip40 | ip40 | ip40 | ip40 | ip40 |
| בסיס קצב הדגימה | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. | Official acquisition time 0.5-1 s per snapshot. |
| טווח מדידה בציר X | 300 mm | 400 mm | 575 mm | 300 mm | 400 mm | 575 mm |
| מרחק עבודה | 475–625 mm | 660–860 mm | 950–1250 mm | 475–625 mm | 660–860 mm | 950–1250 mm |
| קצב דגימת ADC | 2 samples/s | 2 samples/s | 2 samples/s | 2 samples/s | 2 samples/s | 2 samples/s |
| ממשקים מובנים | profinet | profinet | ethercat | profinet | ethercat | ethercat |
| טמפרטורת עבודה | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C | 5–40 °C |
| חזרתיות | 0.5 µm | 1.2 µm | 3 µm | 0.5 µm | 1.2 µm | 3 µm |
| רזולוציה בציר Y | 125 µm | 150 µm | 250 µm | 125 µm | 150 µm | 250 µm |
| רזולוציה | 1.2 µm | 3.4 µm | 8.5 µm | 1.2 µm | 3.4 µm | 8.5 µm |
| סוג סורק תלת־ממד | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot |
| טווח מדידה בציר Z | 150 mm | 200 mm | 300 mm | 150 mm | 200 mm | 300 mm |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | Start 260 x 190 mm at 475 mm; center 300 x 220 mm at 550 mm; end 340 x 250 mm at 625 mm. | Start 350 x 260 mm at 660 mm; center 400 x 300 mm at 760 mm; end 450 x 340 mm at 860 mm. | Start 500 x 375 mm at 950 mm; center 575 x 435 mm at 1100 mm; end 650 x 495 mm at 1250 mm. | Start 260 x 190 mm at 475 mm; center 300 x 220 mm at 550 mm; end 340 x 250 mm at 625 mm. | Start 350 x 260 mm at 660 mm; center 400 x 300 mm at 760 mm; end 450 x 340 mm at 860 mm. | Start 500 x 375 mm at 950 mm; center 575 x 435 mm at 1100 mm; end 650 x 495 mm at 1250 mm. |
| רזולוציה בציר X | 125 µm | 150 µm | 250 µm | 125 µm | 150 µm | 250 µm |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O |
| טווח מדידה בציר Y | 220 mm | 300 mm | 435 mm | 220 mm | 300 mm | 435 mm |
| סטטוס | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל |
| גיליון נתונים | PDF — SC2500-300 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC2500-400 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC2500-575 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC2510-300 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC2510-400 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC2510-575 (נפתח בלשונית חדשה) |
התעשיות שאנו משרתים
שאלות נפוצות
תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו
כן. המקור מתאר העברת תמונות ל־SC2500 controller, שבו מחושבים נתוני התלת־ממד. זו ארכיטקטורה שונה מהסדרות שבהן העיבוד משולב בראש.
לא. זהו שדה הקצה של הדגם הגדול בטבלה. לכל דגם שדות שונים בתחילת טווח העבודה, באמצעו ובסופו.
לא. הטבלה מציינת פחות מ־0.5, 1.2 ו־3.0 מיקרון לפי הדגם, בתנאי משטח, סינון וטמפרטורה מוגדרים.
לא. הערת הטבלה מגדירה את זמן רכישת רצף התבניות ללא זמן עיבוד והערכה. תכנון מחזור כולל גם אותם ואת התקשורת.
לפי ראש, בקר, חיבורים ותוכנת עיבוד תואמים. בטבלה הראש והבקר מוגדרים IP40; אין להעתיק אליהם IP67 של סדרה אחרת.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.