SC3210-30
מסדרת surfaceCONTROL 3D 3200
surfaceCONTROL 3D 3200 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
- טווח מדידה בציר Z
- 6 mm
מפרט טכני
כל הנתונים ההנדסיים, מסודרים לסריקה מהירה
| רזולוציה בציר X | 12 µm |
|---|---|
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Digital I/O |
| בסיס קצב הדגימה | Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot. |
| ממשקים מובנים | ethercat |
| חזרתיות | 0.4 µm |
| ממשקים מובנים | ethernet |
| טווח מדידה בציר Z | 6 mm |
| מרחק עבודה | 127–133 mm |
| טווח מדידה בציר Y | 18.5 mm |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm. |
| דרגת אטימות IP | ip67 |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. |
| קצב דגימת ADC | 3.333333333333333 samples/s |
| טווח מדידה בציר X | 30 mm |
| רזולוציה בציר Y | 12 µm |
| ממשקים מובנים | profinet |
| סוג סורק תלת־ממד | Snapshot |
| רזולוציה | 1 µm |
| טמפרטורת עבודה | 0–45 °C |
אביזרים תואמים
מוצרים משלימים
- 2D/3D Gateway II eli-m-67222d3ca2b35981bcfb00b7 מחייב שרשרת עיבוד מתועדת עם מחשב, 3DInspect ורישיונות; אינו כבל ישיר למידע תלת־ממדי גולמי. גרסת 3x00 להגדרה אינה שקולה לגרסת 3x10 לעיבוד אוטומטי.
אביזרים
- 2105079 eli-m-7347bdd1fa209f07e23cabd9 חובה בתרחיש המתועד של הפעלה רציפה עד45°C לדגם המדויק; בתרחישים אחרים הדרישה תלויה בתנאי ההתקנה וההפעלה.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.
בקשת הצעת מחיר למוצר הזה