surfaceCONTROL 3D 3200 מערכות מדידה ותלת מימד

surfaceCONTROL 3D 3200 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.

בקשת הצעת מחיר למוצר הזה תאם הדגמה דברו עם מומחה

הורדת גיליון נתונים הסדרה באתר Micro-Epsilon

תצלום משפחתי רשמי ממפרט היצרן — מוצגים גופי חיישנים מסדרות 3200 ו־3500

מפרט טכני משותף לסדרה

תכונות שיש לכל דגם בסדרה. מה שמשתנה בין הדגמים מופיע בטבלת הדגמים שלמטה.

טווח על פני הדגמים

הטווח שמכסים דגמי הסדרה יחד – לא הטווח של כל דגם.

הטווח על פני הדגמים של surfaceCONTROL 3D 3200
חזרתיות	0.4–1.8 µm
טווח מדידה בציר X	30–235 mm
רזולוציה	1–5 µm
טווח מדידה בציר Y	18.5–150 mm
רזולוציה בציר Y	12–90 µm
מרחק עבודה	120–500 mm
רזולוציה בציר X	12–90 µm
טווח מדידה בציר Z	6–120 mm
טמפרטורת עבודה	0–45 °C

בקשת הצעת מחיר למוצר הזה

הדגמים בסדרה

עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.

השוואת הדגמים של surfaceCONTROL 3D 3200 לפי פרמטר
פרמטר	SC3200-120 eli-m-5ca6ec21bba12f3f96e98c82	SC3200-240 eli-m-3bcc12a579f97722a6b64c5f	SC3200-30 eli-m-d2502143b0d8e145a30de4ad	SC3200-80 eli-m-c1e9a17348bd0b457f93a7c8	SC3210-120 eli-m-9cea947159733fdc60aefcda	SC3210-240 eli-m-27fcedfbaef1c01a402fd499	SC3210-30 eli-m-2fb7c35042e1bc54149beb2c	SC3210-80 eli-m-8e7b753714bae3d3591afcd7
חזרתיות	1.2 µm	1.8 µm	0.4 µm	0.6 µm	1.2 µm	1.8 µm	0.4 µm	0.6 µm
טווח מדידה בציר X	115 mm	235 mm	30 mm	75 mm	115 mm	235 mm	30 mm	75 mm
רזולוציה	3.4 µm	5 µm	1 µm	1.5 µm	3.4 µm	5 µm	1 µm	1.5 µm
בסיס קצב הדגימה	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.	Official acquisition time 0.3-0.7 s per snapshot.
טווח מדידה בציר Y	75 mm	150 mm	18.5 mm	50 mm	75 mm	150 mm	18.5 mm	50 mm
דרגת אטימות IP	ip67	ip67	ip67	ip67	ip67	ip67	ip67	ip67
ממשקים מובנים	profinet	profinet	ethercat	profinet	ethercat	profinet	ethercat	profinet
פרטי ממשק ואות לפי המקור	Digital I/O	Digital I/O	Digital I/O	Digital I/O	Digital I/O	Digital I/O	Digital I/O	Digital I/O
רזולוציה בציר Y	45 µm	90 µm	12 µm	30 µm	45 µm	90 µm	12 µm	30 µm
בסיס הגדרת חזרתיות	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.	Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.
נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור	Start 100 x 70 mm at 191 mm; center 115 x 75 mm at 206 mm; end 115 x 79 mm at 221 mm.	Start 180 x 130 mm at 380 mm; center 235 x 150 mm at 440 mm; end 235 x 170 mm at 500 mm.	Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm.	Start 65 x 47 mm at 120 mm; center 75 x 50 mm at 130 mm; end 74 x 53 mm at 140 mm.	Start 100 x 70 mm at 191 mm; center 115 x 75 mm at 206 mm; end 115 x 79 mm at 221 mm.	Start 180 x 130 mm at 380 mm; center 235 x 150 mm at 440 mm; end 235 x 170 mm at 500 mm.	Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm.	Start 65 x 47 mm at 120 mm; center 75 x 50 mm at 130 mm; end 74 x 53 mm at 140 mm.
קצב דגימת ADC	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s	3.333333333333333 samples/s
מרחק עבודה	191–221 mm	380–500 mm	127–133 mm	120–140 mm	191–221 mm	380–500 mm	127–133 mm	120–140 mm
רזולוציה בציר X	45 µm	90 µm	12 µm	30 µm	45 µm	90 µm	12 µm	30 µm
טווח מדידה בציר Z	30 mm	120 mm	6 mm	20 mm	30 mm	120 mm	6 mm	20 mm
סוג סורק תלת־ממד	Snapshot	Snapshot	Snapshot	Snapshot	Snapshot	Snapshot	Snapshot	Snapshot
טמפרטורת עבודה	0–45 °C	0–40 °C	0–45 °C	0–45 °C	0–45 °C	0–40 °C	0–45 °C	0–45 °C
סטטוס	פעיל	פעיל	פעיל	פעיל	פעיל	פעיל	פעיל	פעיל
גיליון נתונים	PDF — SC3200-120 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3200-240 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3200-30 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3200-80 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3210-120 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3210-240 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3210-30 (נפתח בלשונית חדשה)	PDF — SC3210-80 (נפתח בלשונית חדשה)