surfaceCONTROL 3D 3500 מערכות מדידה ותלת מימד
surfaceCONTROL 3D 3500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
הורדת גיליון נתונים (נפתח בלשונית חדשה) הסדרה באתר Micro-Epsilon (נפתח בלשונית חדשה)
מפרט טכני משותף לסדרה
תכונות שיש לכל דגם בסדרה. מה שמשתנה בין הדגמים מופיע בטבלת הדגמים שלמטה.
טווח על פני הדגמים
הטווח שמכסים דגמי הסדרה יחד – לא הטווח של כל דגם.
| רזולוציה בציר Y | 8–60 µm |
|---|---|
| רזולוציה בציר X | 8–60 µm |
| רזולוציה | 0.7–4 µm |
| חזרתיות | 0.25–1.4 µm |
| טווח מדידה בציר Z | 6–120 mm |
| טווח מדידה בציר X | 30–240 mm |
| מרחק עבודה | 120–500 mm |
| טווח מדידה בציר Y | 18.5–150 mm |
| טמפרטורת עבודה | 0–45 °C |
הדגמים בסדרה
עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.
| פרמטר | SC3500-120 eli-m-af94c279242645d8c78782e2 | SC3500-240 eli-m-b09a63274fd48481b808fb31 | SC3500-30 eli-m-5a4709d8109aae1e097127d8 | SC3500-80 eli-m-397b8f9eb1f1802c75f71626 | SC3510-120 eli-m-d60ce1bdde2af13ea78b2eec | SC3510-240 eli-m-fa37a6dad3d39194b9c98d02 | SC3510-30 eli-m-997b18c2f3071418dafbddb5 | SC3510-80 eli-m-1219e0b53e8b8cae9201bebc |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| רזולוציה בציר Y | 30 µm | 60 µm | 8 µm | 20 µm | 30 µm | 60 µm | 8 µm | 20 µm |
| רזולוציה בציר X | 30 µm | 60 µm | 8 µm | 20 µm | 30 µm | 60 µm | 8 µm | 20 µm |
| ממשקים מובנים | ethercat | ethercat | ethercat | ethernet | ethercat | ethernet | profinet | ethercat |
| רזולוציה | 2 µm | 4 µm | 0.7 µm | 1 µm | 2 µm | 4 µm | 0.7 µm | 1 µm |
| בסיס הגדרת חזרתיות | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. | Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. |
| נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור | Start 107.5 x 70 mm at 191 mm; center 120 x 75 mm at 206 mm; end 123.5 x 80 mm at 221 mm. | Start 190 x 130 mm at 380 mm; center 240 x 150 mm at 440 mm; end 245 x 170 mm at 500 mm. | Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm. | Start 67.5 x 46 mm at 120 mm; center 80 x 50 mm at 130 mm; end 77.5 x 52 mm at 140 mm. | Start 107.5 x 70 mm at 191 mm; center 120 x 75 mm at 206 mm; end 123.5 x 80 mm at 221 mm. | Start 190 x 130 mm at 380 mm; center 240 x 150 mm at 440 mm; end 245 x 170 mm at 500 mm. | Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm. | Start 67.5 x 46 mm at 120 mm; center 80 x 50 mm at 130 mm; end 77.5 x 52 mm at 140 mm. |
| חזרתיות | 0.7 µm | 1.4 µm | 0.25 µm | 0.4 µm | 0.7 µm | 1.4 µm | 0.25 µm | 0.4 µm |
| טווח מדידה בציר Z | 30 mm | 120 mm | 6 mm | 20 mm | 30 mm | 120 mm | 6 mm | 20 mm |
| קצב דגימת ADC | 5 samples/s | 5 samples/s | 5 samples/s | 5 samples/s | 5 samples/s | 5 samples/s | 5 samples/s | 5 samples/s |
| טווח מדידה בציר X | 120 mm | 240 mm | 30 mm | 80 mm | 120 mm | 240 mm | 30 mm | 80 mm |
| דרגת אטימות IP | ip67 | ip67 | ip67 | ip67 | ip67 | ip67 | ip67 | ip67 |
| פרטי ממשק ואות לפי המקור | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O | Digital I/O |
| מרחק עבודה | 191–221 mm | 380–500 mm | 127–133 mm | 120–140 mm | 191–221 mm | 380–500 mm | 127–133 mm | 120–140 mm |
| סוג סורק תלת־ממד | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot | Snapshot |
| בסיס קצב הדגימה | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. | Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. |
| טווח מדידה בציר Y | 75 mm | 150 mm | 18.5 mm | 50 mm | 75 mm | 150 mm | 18.5 mm | 50 mm |
| טמפרטורת עבודה | 0–45 °C | 0–40 °C | 0–45 °C | 0–45 °C | 0–45 °C | 0–40 °C | 0–45 °C | 0–45 °C |
| סטטוס | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל | פעיל |
| גיליון נתונים | PDF — SC3500-120 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3500-240 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3500-30 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3500-80 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3510-120 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3510-240 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3510-30 (נפתח בלשונית חדשה) | PDF — SC3510-80 (נפתח בלשונית חדשה) |
התעשיות שאנו משרתים
שאלות נפוצות
תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו
למדידות גאומטריה ומשטח תלת־ממדיות מדויקות על משטחים מחזירי אור באופן מפוזר. יש להתאים את שדה המדידה ואת איכות המשטח ליישום.
לא. זו הקרנת תבניות באמצעות LED וצילום בשתי מצלמות. השטח נרכש ברצף תבניות, ללא סריקת קו לייזר על המשטח.
הנתון שייך לדגם השדה הקטן ומותנה ב־EnhancedSNR, מיצוע 3×3, מיקום במרכז השדה, משטח מתאים וטמפרטורה יציבה. אין להציגו לכל הדגמים.
לא. בטבלה הערכים משתנים עם גודל השדה. רזולוציית xy, רזולוציית z וחזרתיות z הם שלושה נתונים שונים.
ענן נקודות עובר ב־GigE Vision לעיבוד. לתוצאות אוטומטיות יש להתאים רישוי 3DInspect ורכיב תקשורת כגון Gateway או יחידת עיבוד מתאימה.
קבלו הצעה או התייעצות
ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.