דלג לתוכן

surfaceCONTROL 3D 3500 מערכות מדידה ותלת מימד

surfaceCONTROL 3D 3500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.

הורדת גיליון נתונים (נפתח בלשונית חדשה) הסדרה באתר Micro-Epsilon (נפתח בלשונית חדשה)

מפרט טכני משותף לסדרה

תכונות שיש לכל דגם בסדרה. מה שמשתנה בין הדגמים מופיע בטבלת הדגמים שלמטה.

טווח על פני הדגמים

הטווח שמכסים דגמי הסדרה יחד – לא הטווח של כל דגם.

הטווח על פני הדגמים של surfaceCONTROL 3D 3500
רזולוציה בציר Y 8–60 µm
רזולוציה בציר X 8–60 µm
רזולוציה 0.7–4 µm
חזרתיות 0.25–1.4 µm
טווח מדידה בציר Z 6–120 mm
טווח מדידה בציר X 30–240 mm
מרחק עבודה 120–500 mm
טווח מדידה בציר Y 18.5–150 mm
טמפרטורת עבודה 0–45 °C
בקשת הצעת מחיר למוצר הזה

הדגמים בסדרה

עמודה לכל דגם: מה שונה בין דגמי הסדרה.

השוואת הדגמים של surfaceCONTROL 3D 3500 לפי פרמטר
פרמטר SC3500-120 eli-m-af94c279242645d8c78782e2 SC3500-240 eli-m-b09a63274fd48481b808fb31 SC3500-30 eli-m-5a4709d8109aae1e097127d8 SC3500-80 eli-m-397b8f9eb1f1802c75f71626 SC3510-120 eli-m-d60ce1bdde2af13ea78b2eec SC3510-240 eli-m-fa37a6dad3d39194b9c98d02 SC3510-30 eli-m-997b18c2f3071418dafbddb5 SC3510-80 eli-m-1219e0b53e8b8cae9201bebc
רזולוציה בציר Y 30 µm 60 µm 8 µm 20 µm 30 µm 60 µm 8 µm 20 µm
רזולוציה בציר X 30 µm 60 µm 8 µm 20 µm 30 µm 60 µm 8 µm 20 µm
ממשקים מובנים ethercat ethercat ethercat ethernet ethercat ethernet profinet ethercat
רזולוציה 2 µm 4 µm 0.7 µm 1 µm 2 µm 4 µm 0.7 µm 1 µm
בסיס הגדרת חזרתיות Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range. Official Z repeatability measured on a ground metal plate at the center of the measuring range.
נתון טכני לפי גודל ובסיס במקור Start 107.5 x 70 mm at 191 mm; center 120 x 75 mm at 206 mm; end 123.5 x 80 mm at 221 mm. Start 190 x 130 mm at 380 mm; center 240 x 150 mm at 440 mm; end 245 x 170 mm at 500 mm. Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm. Start 67.5 x 46 mm at 120 mm; center 80 x 50 mm at 130 mm; end 77.5 x 52 mm at 140 mm. Start 107.5 x 70 mm at 191 mm; center 120 x 75 mm at 206 mm; end 123.5 x 80 mm at 221 mm. Start 190 x 130 mm at 380 mm; center 240 x 150 mm at 440 mm; end 245 x 170 mm at 500 mm. Start 29.5 x 18 mm at 127 mm; center 30 x 18.5 mm at 130 mm; end 30.5 x 19 mm at 133 mm. Start 67.5 x 46 mm at 120 mm; center 80 x 50 mm at 130 mm; end 77.5 x 52 mm at 140 mm.
חזרתיות 0.7 µm 1.4 µm 0.25 µm 0.4 µm 0.7 µm 1.4 µm 0.25 µm 0.4 µm
טווח מדידה בציר Z 30 mm 120 mm 6 mm 20 mm 30 mm 120 mm 6 mm 20 mm
קצב דגימת ADC 5 samples/s 5 samples/s 5 samples/s 5 samples/s 5 samples/s 5 samples/s 5 samples/s 5 samples/s
טווח מדידה בציר X 120 mm 240 mm 30 mm 80 mm 120 mm 240 mm 30 mm 80 mm
דרגת אטימות IP ip67 ip67 ip67 ip67 ip67 ip67 ip67 ip67
פרטי ממשק ואות לפי המקור Digital I/O Digital I/O Digital I/O Digital I/O Digital I/O Digital I/O Digital I/O Digital I/O
מרחק עבודה 191–221 mm 380–500 mm 127–133 mm 120–140 mm 191–221 mm 380–500 mm 127–133 mm 120–140 mm
סוג סורק תלת־ממד Snapshot Snapshot Snapshot Snapshot Snapshot Snapshot Snapshot Snapshot
בסיס קצב הדגימה Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot. Official acquisition time 0.2-0.4 s per snapshot.
טווח מדידה בציר Y 75 mm 150 mm 18.5 mm 50 mm 75 mm 150 mm 18.5 mm 50 mm
טמפרטורת עבודה 0–45 °C 0–40 °C 0–45 °C 0–45 °C 0–45 °C 0–40 °C 0–45 °C 0–45 °C
סטטוס פעיל פעיל פעיל פעיל פעיל פעיל פעיל פעיל
גיליון נתונים PDF — SC3500-120 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3500-240 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3500-30 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3500-80 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3510-120 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3510-240 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3510-30 (נפתח בלשונית חדשה) PDF — SC3510-80 (נפתח בלשונית חדשה)

התעשיות שאנו משרתים

שאלות נפוצות

תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו

‏למדידות גאומטריה ומשטח תלת־ממדיות מדויקות על משטחים מחזירי אור באופן מפוזר. יש להתאים את שדה המדידה ואת איכות המשטח ליישום.

‏לא. זו הקרנת תבניות באמצעות ‎LED‎ וצילום בשתי מצלמות. השטח נרכש ברצף תבניות, ללא סריקת קו לייזר על המשטח.

‏הנתון שייך לדגם השדה הקטן ומותנה ב־‎EnhancedSNR,‎ מיצוע ‎3×3,‎ מיקום במרכז השדה, משטח מתאים וטמפרטורה יציבה. אין להציגו לכל הדגמים.

‏לא. בטבלה הערכים משתנים עם גודל השדה. רזולוציית ‎xy,‎ רזולוציית ‎z‎ וחזרתיות ‎z‎ הם שלושה נתונים שונים.

‏ענן נקודות עובר ב־‎GigE Vision‎ לעיבוד. לתוצאות אוטומטיות יש להתאים רישוי ‎3DInspect‎ ורכיב תקשורת כגון ‎Gateway‎ או יחידת עיבוד מתאימה.

לא מצאתם את התשובה שחיפשתם?

צרו קשר עם המומחים שלנו

למידע נוסף

קבלו הצעה או התייעצות

ספרו לנו מה אתם צריכים ומהנדס שלנו יחזור אליכם.

בקשת הצעת מחיר למוצר הזה
מה תרצו לבקש?

דוא"ל או טלפון – מספיק אחד מהם

דוא"ל או טלפון – מספיק אחד מהם

0 מתוך 500 מילים