combiSENSOR KSB6430
combiSENSOR KSB6430 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מדידת עובי.
טכנולוגיות בקטגוריה זו
מוצרים: מערכות מדידה ותלת מימד
57 מוצרים
-
-
combiSENSOR KSS64x0
combiSENSOR KSS64x0 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מדידת עובי.
-
confocalDT two-sided thickness setup
confocalDT two-sided thickness setup — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
-
confocalLINE CLI8500
confocalLINE CLI8500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
-
FTS 8101
FTS 8101 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
-
-
optoCONTROL 1200
optoCONTROL 1200 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מיקרומטרים אופטיים.
-
optoCONTROL 1201
optoCONTROL 1201 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מיקרומטרים אופטיים.
-
optoCONTROL 2520
optoCONTROL 2520 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מיקרומטרים אופטיים.
-
optoCONTROL 2700
optoCONTROL 2700 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מיקרומטרים אופטיים.
-
profileGAUGE X.LP-3D
profileGAUGE X.LP-3D — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
reflectCONTROL
reflectCONTROL — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
reflectCONTROL Automation
reflectCONTROL Automation — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
scanCONTROL + 3D Profile Unit
scanCONTROL + 3D Profile Unit — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 2500
scanCONTROL 2500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 2510
scanCONTROL 2510 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 25×0
scanCONTROL 25x0 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 2900
scanCONTROL 2900 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 2910
scanCONTROL 2910 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 2950
scanCONTROL 2950 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 2960
scanCONTROL 2960 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 29×0
scanCONTROL 29x0 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 3000
scanCONTROL 3000 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 3002
scanCONTROL 3002 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 3010
scanCONTROL 3010 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 3012
scanCONTROL 3012 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 30xx
scanCONTROL 30xx — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 8200
scanCONTROL 8200 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 8500
scanCONTROL 8500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
scanCONTROL 8×00
scanCONTROL 8x00 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
surfaceCONTROL 3D 2500
surfaceCONTROL 3D 2500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
surfaceCONTROL 3D 2600
surfaceCONTROL 3D 2600 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
surfaceCONTROL 3D 3200
surfaceCONTROL 3D 3200 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
surfaceCONTROL 3D 3500
surfaceCONTROL 3D 3500 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
surfaceCONTROL 3D 3560
surfaceCONTROL 3D 3560 — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
-
thicknessCONTROL MTS 8201.LLT
thicknessCONTROL MTS 8201.LLT — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
thicknessCONTROL MTS 8202.LLT
thicknessCONTROL MTS 8202.LLT — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
thicknessCONTROL MTS 9201.LLT
thicknessCONTROL MTS 9201.LLT — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
thicknessCONTROL MTS 9202.LLT
thicknessCONTROL MTS 9202.LLT — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
thicknessCONTROL MWS 8201.LLT
thicknessCONTROL MWS 8201.LLT — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
thicknessCONTROL STG 8101
thicknessCONTROL STG 8101 — מערכת של Micro-Epsilon בתחום מדידת עובי.
-
thicknessCONTROL STG 8101.EO
thicknessCONTROL STG 8101.EO — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום מיקרומטרים אופטיים.
-
thicknessCONTROL STG 8102
thicknessCONTROL STG 8102 — מערכת של Micro-Epsilon בתחום מדידת עובי.
-
thicknessGAUGE 3D
thicknessGAUGE 3D — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
-
thicknessGAUGE C.C
thicknessGAUGE C.C — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום קונפוקלי כרומטי.
-
thicknessGAUGE C.LL
מערכת למדידת עובי רציפה עם שני חיישני טריאנגולציה בלייזר, כיול אוטומטי ויחידת תנועה. ביצועי המערכת מפורטים לכל דגם.
-
thicknessGAUGE C.LP
thicknessGAUGE C.LP — חיישנים ומכשירי מדידה של Micro-Epsilon בתחום חיישני פרופיל דו/תלת-ממדיים.
סקירת הטכנולוגיה
מוצרים ורכיבים בתחום מערכות מדידה ותלת מימד.
איכות והסמכות
מערכת ניהול איכות מוסמכת, תעודות כיול ושירותי כיול אצל היצרנים.
- כל מכשיר מסופק עם תעודת כיול.
- שירותי כיול מתקדמים אצל היצרנים בחו״ל, בתיאום וליווי של צוות אלינה.
- מערכת ניהול האיכות מוסמכת לפי ISO 9001:2015. תעודה I31417 בתוקף עד 7.4.2028.
9001:2015
שאלות נפוצות
תשובות לשאלות הנפוצות ביותר על המוצרים והשירותים שלנו
surfaceCONTROL מוצג כחיישן Snapshot לגאומטריה תלת־ממדית, ו־reflectCONTROL כחיישן דפלקטומטריה למשטחים מחזירי אור. בוחרים לפי המשטח ומשימת הבדיקה.
לא. Snapshot מודד אזור, בעוד סורק קו מפיק פרופילים שניתן לשלב עם תנועה למידע תלת־ממדי. יש לבחור לפי גאומטריה ותנועת החלק.
מגדירים שדה מדידה, שינוי גובה, דרישת ביצועים, חומר והחזר מהמשטח. מספר נקודות לבדו אינו מגדיר את דיוק הגאומטריה.
היצרן מציג את 3DInspect להגדרה ולהערכה, לצד נתיבי שילוב בתוכנה. יש להתאים את התמיכה לדגם ולסוג הנתונים הנדרש.
לא. התאמה למשטח מפוזר או למשטח מחזיר היא שיקול מרכזי בבחירת העיקרון והמשפחה. יש לבדוק גם צורה, זוויות ונגישות אופטית.
במערכת נתמכת, 3DProfileUnit משלב נתונים מכמה סורקי scanCONTROL 30xx במערכת צירים משותפת, ויכול להשתמש באות מיקום מאנקודר. נדרשת הגדרה של מיקום הסורקים ושל תנועת החלק; חיבור כמה סורקים לרשת אינו מבצע זאת כשלעצמו.
צור קשר
הטכנולוגיה שלנו מוטמעת בתהליכי הייצור והמחקר המובילים בישראל ובעולם.
שלחו לנו הודעה
- כתובת רחוב המצודה 29, א.ת. אזור אזור 5800173, ת.ד. 11475
- טלפון 03-5590277
- דוא״ל sales@elinatech.com
- שעות פעילות ראשון–חמישי, 08:30–18:00